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Head, Probe, & Sample Preparation

System Information

Rev. D Dimension 3100 Manual 101

7.1.3 Laser Requirements

This instrument uses a semiconductor laser emitting a maximum 1.0mW beam at 670 nm. The light

is emitted down the center of the scanner tube and during normal operation reﬂects back into the

system’s optics from the back surface of the cantilever probe.

CAUTION: When the Dimension head is plugged into the microscope control

electronics, laser light is emitted.

CAUTION: The Dimension head features an internal tilt switch to shut power

off to the laser whenever it is inverted, however, heed all

precautions below.

WARNING: During and prior to set up of the laser, it is important to avoid

looking directly at the laser beam or at the laser spot. The laser

head should never be plugged into the microscope control

electronics unless the head is installed in the Z-stage mount. Take

care when inserting highly reflective samples on the chuck. Avoid

looking at all reflected laser light. Use care to avoid staring into

beams that may be reflected from sample surfaces.

AVERTISSEMENT:Avant de faire fonctionner le laser, et durant tout le temps

pendant lequel il fonctionne, il est impératif de ne pas regarder

directement le faisceau du laser ou l’image qu’il réfléchit. La

sonde laser ne doit jamais être branchés sur l’électronique de

contrôle du microscope, tant que la téte de mesure n’est pas

installée dans son support. Il est impératif de faire très attention

lorsque des échantillons très réfléchissants sont déposés sur la

platine. Eviter toute exposition à la lumière laser. Durant

l’utilisation, ne pas fixer les faisceaux laser réfléchis par les

surfaces d’échantillons.

WARNUNG: Es ist sehr wichtig, vor und während der Laserjustierung nicht in

den Laserstrahl oder auf den Laserpunkt zu schauen. Der Laser

sollte niemals an die Mikroskopelektronik angeschlossen werden,

wenn er nicht in der Halterung der Z-Verschiebeeinheit installiert

ist. Seien Sie bitte sehr vorsichtig, wenn stark reflektierende

Proben auf dem Probenteller liegen. Vermeiden Sie unter allen

Umständen, in das reflektierte Laserlicht zu schauen. Alle

Bediener des Mikroskops sollten größte Vorsicht walten lassen um

zu vermeiden, in den von der Probenoberfläche reflektierten

Laserstrahl zu schauen.

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